WXSZ-F4四探针法粉末电阻率仪
产品分类: 变压器测试仪
一、产品描述 采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理. 双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计参考国标单晶硅
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采用四探针组合双电测量方法,液晶显示,自动测量,自动量程,自动系数补偿.高集成电路系统、恒流输出;选配:PC软件进行数据管理和处理.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计参考国标单晶硅物理测试方法及 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换,进行两次电测量,对数据进行双电测分析,解决样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响.
二、应用说明
覆盖膜;导电高分子膜,高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层,电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料,其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件,导电薄膜(ITO导电膜玻璃等),金属膜,导电漆膜,蒸发铝膜,PCB铜箔膜,EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆,导电性糊状物,导电性塑料,导电性橡胶,导电性薄膜,金属薄膜, EMI 防护材料,导电性纤维,导电性陶瓷等,提供中文或英文两种语言操作界面选择.
三、参数资料
规格型号 WXSZ-F4
1.方块电阻 10^-5~2×10^5Ω/□
2.电阻率 10^-6~2×10^6Ω-cm
3.测试电流 0.1μA.μA.0μA,100µA,1mA,10mA,100mA
4.电流精度 ±0.1%
5.电阻精度 ≤0.3%
6.显示读数 屏液晶显示:电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式 双电测量
8.电源 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗:<30W
9.误差 ≤3%(标准样片结果)
10.选购功能 选购1.pc软件; 选购2.方形探头; 选购3.直线形探头; 选购4.测试平台;5.标准电阻.
11.测试探头 探针间距选购:1mm;2mm;3mm三种规格; 探针材质选购:碳化钨针;白钢针;镀金磷铜半球形针
12.标准电阻(选购)规格:1mΩ、10mΩ、100mΩ、1Ω、10Ω、1kΩ、10kΩ、100kΩ、1MΩ
标准配置外订购明细:
序号 | 型号 | 品名 | 单位 | 数量 | 备注 |
1 | F4-CSX | 测试线 | 套 | 1 | |
2 | 09A | 标准电阻 | 个 | 1-5 | 选购规格和数量 |
3 | 06A | 四探针测试平台 | 套 | 1 | 含探头1个 |
4 | 06B | 四探针探头 | 个 | 1 | 方型或直线型选购 |
5 | F4-TTZ | 镀金弹簧铜针4根 | 组 | 1 | 4根为一组 |
6 | F4-WTZ | 弹簧钨针4根 | 组 | 1 | 4根为一组 |
7 | F4-RJ | 分析软件 | 套 | 1 | |
8 | PC | 电脑+打印机 | 套 | 1 | 依据客户要求配置 |
9 | 300-JL | 检测技术服务 | 份 | 1 | 计量证书1份 |
10 | WDCGQ | 温度传感器 | 套 | 1 | 常温-125度 |